日本三高SANKO SAMAC-Pro（高功能型）膜厚计

日本三高SANKO   SAMAC-Pro（高功能型）膜厚计

SAMAC-Pro（高功能型）膜厚计

Pro 型还有以下功能
测量值存储器
测量线存储器
可设定zui大、zui小值
可传送数据到电脑
可在液晶画面上做统计演算

日本三高SANKO   SAMAC-Pro（高功能型）膜厚计

日本三高SANKO   SAMAC-Pro（高功能型）膜厚计

三高SANKO膜厚计Pro-1
    能准确地测量金属板上的镀层一定范围内的厚度(包含多层与合金)。
     不止能测量平面上金属镀层的厚度，亦可测量圆形的，尖状的(如细线)
    以及不规则形状的物品。
     可测量被测物上镀层厚度范围为0.01～300μm.
     能精确地测量出至少三层在被测物上多层镀层的膜厚，这是用其它方
    法是很困难得到精确地数据。
     可由计算机来处理测量的统计数据。
     可制做一个利用非破坏性 (X-Ray) 检测的厚度标准片。
     可以确认非破坏性的膜厚计的精度。
    三高SANKO膜厚计Pro-1
    由微电脑组成，测量设备包含逻辑函数，可计算与储存数据。
     所有的操作过程均为对答方式操作，非常简易，因操作程序的显示均
    依据目前的测量状态。
     能储存64 种测量条件，不须要每次测量就要做一次设定，非常方便。
     四层之镀层亦能设定，而且每一层均能单独作统计处理